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高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱電腦失效驗(yàn)證試驗(yàn)升降溫快

高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱電腦失效驗(yàn)證試驗(yàn)升降溫快

簡要描述:高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱電腦失效驗(yàn)證試驗(yàn)升降溫快
用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、航天等制品檢測質(zhì)量

產(chǎn)品型號: SME-100PF

所屬分類:高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱

更新時間:2024-06-28

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

詳情介紹

高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱電腦失效驗(yàn)證試驗(yàn)升降溫快


是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的檢測設(shè)備,用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

1)溫濕度控制儀表采用“韓國原裝TEMI990"大屏幕-液晶顯示-可編程微電腦PID控制SSR輸出運(yùn)行

2) 具有PID自整定功能、模糊控制功能、多點(diǎn)報(bào)警功能、參數(shù)屏蔽功能、用戶調(diào)整功能、斜坡/保溫功能   
3) 傳感器為*Pt100鉑電阻傳感器,精度高,準(zhǔn)確   

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高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則設(shè)備結(jié)構(gòu)該設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。箱體的外殼為采用冷軋鋼板靜電噴塑,內(nèi)膽采用優(yōu)質(zhì)不銹鋼板,箱門中間設(shè)大面積觀察窗,并配有觀察燈,使用戶可以清晰地看到試樣的試驗(yàn)情況。外型整體美觀大方。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

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試樣限制

本試驗(yàn)設(shè)備禁止:

   易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存

   腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存

   生物試樣的試驗(yàn)或儲存

   強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲存

3.容積、尺寸和重量

3.1.標(biāo)稱內(nèi)容積

3.2.內(nèi)箱尺寸

3.3.外型尺寸

3.4.重量

80L

W 400×H 500×D 400mm

W 700×H 1640×D 1150mm

4.性能

4.1.測試環(huán)境條件

4.2.測試方法

環(huán)境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無試樣條件下

GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品溫度試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)

4.3.溫度范圍

-40℃→+150℃

4.4.溫度波動度

±0.5℃

4.5.溫度偏差

±2.0℃

4.6.濕度范圍

20%~98%R.H

4.7.濕度波動度

±2.5%R.H.

4.8.濕度均勻度

±3.0%RH(濕度> 75%RH)

±5.0%RH(濕度 ≤75%RH)

4.9.升溫時間

-40℃→+150℃    65min

4.10.降溫時間

+20℃→-40℃    60min

4.11.負(fù)載情況

空載

4.12.溫濕度控制范圍圖


4.13.滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.1-2008試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

GB/T 2423.2-2008 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

GJB 150.3-1986   高溫試驗(yàn)

GJB 150.4-1986   低溫試驗(yàn)

IEC68-2-1 試驗(yàn)A:寒冷

IEC68-2-2 試驗(yàn)B:干熱






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