高低測(cè)試箱環(huán)境可靠性高溫、低溫測(cè)試方法具體分析

環(huán)境可靠性高溫試驗(yàn):考核試驗(yàn)樣品在高溫條件下的貯存或使用的適應(yīng)性。高低溫測(cè)試箱

*試驗(yàn)方法:

*溫度突變和溫度漸變;

*區(qū)分散熱樣品和非散熱樣品:

*散熱樣品試驗(yàn)方法:Bd溫度漸變;

*非散熱樣品試驗(yàn)方法:日b溫度漸變;

*帶電設(shè)備試驗(yàn)方法:Be溫度漸變。

*沒(méi)有特別說(shuō)明加負(fù)載的試驗(yàn)樣品，試驗(yàn)采用高溫試驗(yàn)方法Bb溫度漸變;

*中間檢測(cè):一般不允許在測(cè)試過(guò)程中把樣品拿出試驗(yàn)箱外進(jìn)行功能測(cè)試。功能測(cè)試應(yīng)讓樣品保持在試驗(yàn)箱里。

*恢復(fù):zui少一個(gè)小時(shí)，zui長(zhǎng)不超過(guò)兩個(gè)小時(shí)。

*所有的功能測(cè)試必須在兩個(gè)小時(shí)內(nèi)完成。

*參考標(biāo)準(zhǔn):IEC60068-2-2; GB/T 2423.2

環(huán)境可靠性低溫試驗(yàn)

*低溫試驗(yàn):考核試驗(yàn)樣品在低溫條件下的貯存或使用的適應(yīng)性。

*試驗(yàn)方法:

*溫度突變和溫度漸變;

*區(qū)分非散熱樣品和散熱樣品:試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后，在自由空氣條件(即沒(méi)有強(qiáng)迫空氣循環(huán))下溫量時(shí)，樣品表面zui熱的點(diǎn)溫度高于周?chē)髿鉁囟?K以上的，認(rèn)為是散熱樣品。

*非散熱樣品試驗(yàn)方法:Ab溫度漸變;

*散熱樣品試驗(yàn)方法:Ad溫度漸變;

*帶電設(shè)備試驗(yàn)方法:Ae溫度漸變。

*沒(méi)有特別說(shuō)明加負(fù)載的試驗(yàn)樣品，試驗(yàn)采用低溫試驗(yàn)方法Ab溫度漸變;

*中間檢測(cè):一般不允許在測(cè)試過(guò)程中把樣品拿出試驗(yàn)箱外進(jìn)行功能測(cè)試。功能測(cè)試應(yīng)讓樣品保持在皓天設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)箱里。

*恢復(fù):zui少一個(gè)小時(shí)，zui長(zhǎng)不超過(guò)兩個(gè)小時(shí)。所有的功能測(cè)試必須在兩個(gè)小時(shí)內(nèi)完成。

*也可以設(shè)置溫度漸變的方法把試驗(yàn)箱里的溫度組緩慢的恢復(fù)到室溫后再取出樣品，避免樣品產(chǎn)生凝露。

*參考標(biāo)準(zhǔn):I EC60068-2-1;G BIT 2423.1